隨著電子產(chǎn)品更新?lián)Q代速度的加快，消費(fèi)者對(duì)產(chǎn)品的挑剔不僅僅局限于產(chǎn)品的外觀，對(duì)電子產(chǎn)品內(nèi)在的質(zhì)量、穩(wěn)定性也有了諸多要求。而芯片在電子產(chǎn)品中如同心臟一般起著至關(guān)重要的作用。一顆芯的好壞，直接影響著電子產(chǎn)品的使用壽命。所以，現(xiàn)在的芯片在封裝好出廠前，芯片廠商都還會(huì)再進(jìn)行嚴(yán)密的溫度加速老化和HAST的溫濕度老化測(cè)試。

老化HTOL【High Temperature Operating Life】，就是在高溫下加速芯片老化，然后估算芯片壽命。還有HAST【Highly Accelerated Stress Test】測(cè)試芯片封裝的耐濕能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛的溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣是否會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體從而損壞芯片。

芯片老化座在芯片的HTOL和HAST老化試驗(yàn)起著重要的作用。它能夠幫助芯片在嚴(yán)苛的測(cè)試環(huán)境下很好的接觸，從而完成測(cè)試工作。鴻怡電子生產(chǎn)的IC老化座，在老化座市場(chǎng)具有極高的占有率。無論是價(jià)格還是產(chǎn)品的多元化上，都是客戶的不二之選。目前，我們的IC老化座，針對(duì)市面上的統(tǒng)用標(biāo)準(zhǔn)型IC，會(huì)采用現(xiàn)貨的開模彈片來制作。而針對(duì)非常規(guī)類芯片的老化測(cè)試，可使用探針的方式.一切以為穩(wěn)定測(cè)試、降低成本為主要宗旨。