IC測(cè)試座是用來(lái)把程序燒錄進(jìn)芯片的，需要編程器的配合才能燒錄。把IC測(cè)試座放在編程器上面的插槽里，然后把IC芯片放到座子里面進(jìn)行燒錄。那么IC測(cè)試座的功能包括哪些呢？

IC測(cè)試座的功能包括：

探測(cè)球小至0。3毫米，定制封裝到現(xiàn)有設(shè)備表面。

雙面測(cè)試

多種頂蓋樣式可選，

適合微觀探測(cè)的超薄頂蓋；

多種類型的彈簧測(cè)試探針可以滿足大多數(shù)需求(無(wú)鉛、低電感、高強(qiáng)度、高電流，開爾文測(cè)試座等等)；

打開IC測(cè)試座來(lái)進(jìn)行背面發(fā)射；

適用于射頻特征和測(cè)試的低電感測(cè)試探針；

適用于無(wú)鉛封裝的高強(qiáng)度頂針；

IC測(cè)試座內(nèi)置開口以便于元件放置。

雙側(cè)測(cè)試

對(duì)接處理器的接口；

多站點(diǎn)的IC測(cè)試治具。